当前位置: 首页 模切产品 模切产品详情

KJ-SR 反射式宽光谱膜厚测量仪

产品参数
产品价格:¥0.00元/台
产品类别:设备模具/检测仪器/剥离力测试
产品规格:准确性:2nm或0.5%;精度:0.1nm
产品型号:KJ-SR
所在地区:广东省东莞市万江区
产品详情
一、产品简介
KJ-SR 系列反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏 ITO 等镀膜厚度,PET 柔性涂布的胶厚等厚度,LED 镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。可用于测量 2 纳米到 3000 微米的膜厚,测量精度达到 0.1 纳米。 在折射率未知的情况下, 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外, 用于精确测量样品的颜色和反射率。样品光斑在 1 毫米以内。
KJ-SR 进行测量简单可靠,实际测量采样时间低于 1 秒。配合我们的 Apris SpectraSys 软件进行手动测量,每次测量时间低于 5 秒。Apris SpectraSys 支持 50 层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys 软件还拥有近千种材料的 材料数据库,同时可对折射率进行拟合。
同时,客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果。
二、应用领域
半导体镀膜 , 光刻胶;蓝宝石镀膜,光刻胶;太阳能镀膜剥离;卷对卷柔性涂布;车灯镀膜厚度;阳极氧化厚度;玻璃减反膜测量;ITO玻璃;各种衬底上的膜厚;PET镀层厚度等等
其他产品